میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM)

مدل دستگاه:

JPK-NanoWizard II ساخت کشور آلمان

کاردبرد:

آنالیز AFM بعنوان یکی از تجهیزات محبوب در اندازه گیری رافنس یا زبری سطح، پستی و بلندی سطوح (توپوگرافی) و تصویربرداری دو و سه بعدی از سطوح با قدرت تفکیک اتمی بشمار می‌آید. تصویربرداری پیش فرض شامل 3 پنجره اصلی 10، 5 و 3 میکرون می باشد. تصویربرداری در بازه 10 الی 100 میکرون و همچنین زیر 1 میکرون ملزم به هماهنگی با آزمایشگاه می باشد.

قابلیت ثبت لبزنت: دارد

• در نمونه های پودری محلول دیسپرس کننده باید مشخص و موارد جز آب و اتانول همراه نمونه ارسال شود.
• سمی یا غیر سمی بودن نمونه و پشت و روی نمونه مشخص شود.
• تصویر برداری از نمونه های خورنده به علت آسیب به کانتیلیور دستگاه، امکان پذیر نمی باشد.
• ابعاد نمونه بالک حداقل 3×3 سانتی متر  و ارتفاع آن حداکثر 2 سانتی متر باشد.
• نمونه ای که تحویل آزمایشگاه داده می‌شود باید صاف و بدون هیچ تاخوردگی باشد.

قیمت:

تصویربرداری با تعیین خواص مکانیکی به ازای هر نمونه: 500,000 تومان

تصویربرداری همراه با اماده سازی نمونه:562,500 تومان

امروزه Atomic force microscopy که آنالیز AFMنامیده می شود بعنوان یکی از تجهیزات محبوب در اندازه گیری رافنس یا زبری سطح، پستی و بلندی سطوح (توپوگرافی) و تصویربرداری دو و سه بعدی از سطوح با قدرت تفکیک اتمی بشمار می‌آید.

این میکروسکوپ با استفاده از سوزنی(Probe) متصل به تیرک (Cantilever) که در حالت ایده آل در نوک آن تنها یک اتم جای می‌گیرد، با ثبت نیروهای میان نوک سوزن و نمونه می تواند خواصی از نمونه‌های مورد آنالیز را به صورت غیر مستقیم ارائه ‌دهد، این نیروهای می‌توانند از انواع مختلف نیروهای واندروالسی، کووالانسی، الکترواستاتیکی، اصطکاکی، الکتریکی، مغناطیسی، چسبندگی، موئینگی و… باشند که بسته به وجود این نیروها و فاصله سوزن تا سطح نمونه حالت‌های بررسی به سه صورت تماسی، غیر تماسی و ضربه‌ای تقسیم‌بندی می‌شوند .